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1. HSHL-Patent unter Top 10 Poster auf Internationaler Konferenz gewählt

Poster auf Internationaler Test Konferenz in Phoenix, Arizona gewählt

Prof. Dr. René Krenz-Baath, Studiengangsleiter "Intelligent Systems Design" an der Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL) stellte das 1. HSHL-Patent zu einer neuartigen flexiblen Testinfrastruktur für Mikrochips auf der International Test Conference (ITC) in Phoenix, Arizona vor.

Prof. Dr. René Krenz-Baath, Studiengangsleiter "Intelligent Systems Design" an der Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL) stellte das 1. HSHL-Patent zu einer neuartigen flexiblen Testinfrastruktur für Mikrochips auf der International Test Conference (ITC) in Phoenix, Arizona vor. Auf der Fachkonferenz wurde die Präsentation des Forschungsprojekts unter die Top 10 Poster gewählt und erhielt so internationale Aufmerksamkeit.

Forschende sowie Entwicklerinnen und Entwickler namhafter Mikrochiphersteller, wie beispielsweise INTEL, AMD, Google, Infineon, Globalfoundries und National Instruments, interessierten sich für Details der Erfindung von Prof. Krenz-Baath. Die im Rahmen seines Forschungsprojekts entwickelte neuartige flexible Testinfrastruktur für Mikrochips, ermöglicht genauer, kosten- und zeitsparender als bisher Tests – sowohl bei bereits verbauten wie auch in Betrieb befindlichen Mikrochips. Besondere Bedeutung hat diese Erfindung zum Beispiel in Bereichen der autonomen Steuerung, wie dem autonomen Fahren, um Betriebssicherheit wie auch Sicherheit anderer zu ermöglichen. "Die Präsentation des Projekts vor internationalem Publikum war ein voller Erfolg und brachte uns wertvolles Feedback aus Wissenschaft und Industrie für die weitere Arbeit an dem Projekt", so Prof. Krenz-Baath.

Die International Test Conference ist die weltweit führende Konferenz, die sich mit dem Test von  elektronischen Systemen befasst und den gesamten Zyklus von Designprüfung, Test, Diagnose und Fehleranalyse bis hin zu Prozess- und Designverbesserungen abdeckt.

© 2018 Hochschule Hamm-Lippstadt

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