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Concurrent IJTAG

NRW-Patent-Validierung

Im Rahmen des Förderprogramms "NRW-Patent-Validierung" wird an der Hochschule Hamm-Lippstadt das Forschungsprojekt Concurrent IJTAG unterstützt, um die patentierte Technik an die aktuellen und zukünftigen Herausforderungen der Industrie im Bereich Chip-Test anzupassen und somit eine erfolgreiche Vermarktung des Patentes zu ermöglichen. Bereits 2018 wurde das Patent in Deutschland angemeldet. Im Oktober 2021 kam das Patent in den USA hinzu.

Die im Rahmen des Forschungsprojekts entwickelte neuartige flexible Testinfrastruktur für Mikrochips, ermöglicht genauer, kosten- und zeitsparender als bisher Tests durchzuführen – sowohl in der Chip-Produktion als auch bei in Betrieb befindlichen Mikrochips. Besondere Bedeutung hat diese Erfindung zum Beispiel in Bereichen der autonomen Steuerung, wie dem autonomen Fahren, um Betriebssicherheit wie auch Sicherheit anderer zu ermöglichen.

Der von Prof. Dr. René Krenz-Baath entwickelte Mikrochip weist im Gegensatz zu den bisher verfügbaren eine Vielzahl gleichzeitig rekonfigurierbarer Teststrukturen auf, mit denen vorgeschrieben Selbsttests durchgeführt werden. Besonders flexibel wird der neu entwickelte Chip durch einen Zwischenspeicher sowie variable Möglichkeiten zur Komprimierung und Dekomprimierung von Daten. Tests sind dadurch schneller und mit weniger Zeitaufwand möglich – sowohl bei verbauten Mikrochips nach der Produktion als auch bei im Einsatz befindlichen Mikrochips.

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