Das HSHL-Patent zu einer neuartigen flexiblen Testinfrastruktur für Mikrochips präsentiert Prof. Dr. René Krenz-Baath, Studiengangsleiter "Intelligent Systems Design" an der Hochschule Hamm-Lippstadt, aktuell auf dem Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ'19) in Prien am Chiemsee. Der Workshop ist das bedeutendste deutschsprachige Forum, um Trends, Ergebnisse und aktuelle Probleme auf dem Gebiet des Tests, der Diagnose und der Zuverlässigkeit digitaler, analoger, Mixed-Signal- und HF-Schaltungen zu diskutieren. Der Workshop wird von Intel Deutschland und Mentor, A Siemens Business organisiert und von der Universität Bremen unterstützt. Neben der Vorstellung seiner Forschungsarbeit wirkt Prof. Krenz-Baath als Mitglied des Programmkomitees am TuZ’19 mit.

Im Rahmen eines Forschungsprojekts hat der HSHL-Wissenschaftler eine neuartige flexible Testinfrastruktur für Mikrochips erfunden, die genauer, kosten- und zeitsparender als bisher Tests ermöglicht – sowohl bei bereits verbauten wie auch in Betrieb befindlichen Mikrochips. Besondere Bedeutung hat diese Erfindung zum Beispiel in Bereichen der autonomen Steuerung, wie dem autonomen Fahren, um Betriebssicherheit wie auch Sicherheit anderer zu ermöglichen. Mit dieser Erfindung hatte die HSHL ihre erste Patentanmeldung eingereicht.