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US-Patent für von HSHL-Professor Krenz-Baath entwickelte Testinfrastruktur von Mikrochips

Prof. Dr. René Krenz-Baath, Studiengangsleiter "Intelligent Systems Design", darf sich dank seiner Erfindung über das erste US-Patent der Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL) freuen. Seit vielen Jahren forscht er im Bereich verbesserter Testinfrastrukturen von Mikrochips. Die Patentierung in Deutschland gelang bereits 2019. Nun erreichte ihn im Oktober 2021 die erfreuliche Nachricht aus den USA, dass die dortige Patentanmeldung ebenfalls erfolgreich war.

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Erste HSHL-Patentanmeldung: Flexible Testinfrastruktur für Mikrochips

Von der Fotokamera über Fahrzeuge bis hin zu komplexen Produktionsanlagen: Mikrochips befinden sich in zahlreichen technischen Geräten und ohne sie funktioniert nichts. Doch wie wird sichergestellt, dass die komplexen winzig kleinen Plättchen reibungslos funktionieren? Prof. Dr. René Krenz-Baath, Studiengangsleiter "Intelligent Systems Design" an der Hochschule Hamm-Lippstadt (HSHL), hat im Rahmen eines Forschungsprojekts eine neuartige flexible Testinfrastruktur für Mikrochips erfunden, die das genauer, kosten- und zeitsparender als bisherige Tests ermöglicht – sowohl bei bereits verbauten wie auch in Betrieb befindlichen Mikrochips.

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